Iijima Y., Muroga T., Saitoh T., Izumi T., Shiohara Y., Watanabe T., Kakimoto K., Yamada Y., Iwai H., Hirayama T., Sutoh Y., Miyata S., Sasaki H., Kato T.(tkato@jfcc.or.jp), Ikuhara Y., Ibi A., Sasaki Y.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, buffer layers, PLD process, fabrication, microstructure, grain alignment
Takahashi K., Muroga T., Shiohara Y., Watanabe T., Yamada Y., Miyata S., Ibi A., Konishi M.(masaya-konishi@istec.or.jp)
Ключевые слова: HTS, REBCO, coated conductors, IBAD process, PLD process, Jc/B curves, angular dependence, REBCO, YBCO, REBCO, fabrication, critical caracteristics
Shiohara Y., Kato T., Yamada Y., Hirayama T., Miyata S., Konishi M., Ibi A., Kobayashi H., Takahashi K(ktakahashi@istec.or.jp), Fukushima H.
Nakamura T., Takahashi K., Awaji S., Watanabe K., Kiss T., Inoue M., Yamada Y., Ibi A., Shiohara Y.Y., Mitsui D., Fujiwara T.N.
Ключевые слова: HTS, coated conductors, IBAD process, PLD process, Jc/B curves, angular dependence, fabrication, experimental results, critical caracteristics
Takahashi K., Shiohara Y., Kato T., Yamada Y., Miyata S., Konishi M., Ibi A., Kobayashi H., Fukushima H., Hirayamae T.
Ключевые слова: HTS, REBCO, coated conductors, pinning centers artificial, fabrication
Takahashi K., Shiohara Y., Yamada Y., Miyata S., Kuriki R., Ibi A.(ibi@istec.or.jp), Fukushima H.
Takahashi K., Yamada Y.(yyamada@istec.or.jp), Miyata S., Konishi M., Kuriki R., Ibi A., Kobayashi H., Fukushima H., Ishida S., Kato T.*2 et al.
Shiohara Y., Yamada Y., Konishi M., Miyata S.(miyata@istec.or.jp), Kuriki R., Ibi A.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, IBAD process, high rate process, grain alignment, fabrication, substrate Hastelloy
Takahashi K., Muroga T., Shiohara Y., Yamada Y., Miyata S., Ibi A., Kobayashi H., Konishi M.(masaya-konishi@istec.or.jp)
Muroga T., Fuji H., Izumi T., Watanabe T., Yamada Y., Miyata S., Konishi M., Machi T., Ibi A., Kitoh Y., Nakao K.(nakao@istec.or.jp), Aokia Y., Shioharaa Y.
Ключевые слова: HTS, coated conductors, long conductors, YBCO, current distribution, Hall sensor, measurement technique
Fuji H., Izumi T., Aoki Y., Yamada Y.(yamada@istec.or.jp), Nakao K., Chikumoto N., Ibi A., Kitoh Y., Machi T.(machi@istec.or.jp)
Ключевые слова: HTS, coated conductors, long conductors, optical imaging, measurement technique, length
Takahashi K., Muroga T., Shiohara Y., Watanabe T., Kato T., Yamada Y., Hirayama T., Miyata S., Konishi M., Ibi A.
Muroga T., Shiohara Y., Watanabe T., Yamada Y., Iwai H., Miyata S., Ibi A.(ibi@istec.or.jp), Katoh T.(tkato@jfcc.or.jp), Hirayama T.(hirayama@jfcc.or.jp)
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, buffer layers, critical current, PLD process, reel-to-reel process, long conductors, IBAD process, critical caracteristics, fabrication, length
Ключевые слова: coated conductors, IBAD process, buffer layers, PLD process, cap layers, reel-to-reel process, long conductors, grain alignment, fabrication
Takahashi K., Muroga T., Shiohara Y., Watanabe T., Kato T., Yamada Y., Hirayama T., Miyata S., Konishi M., Ibi A., Kobayashi H.
Ключевые слова: HTS, YBCO, YBCO, coated conductors, defects columnar, Jc/B curves, anisotropy, pinning, experimental results, microstructure, fabrication, critical caracteristics, substrate Hastelloy
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.